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X-Ray Diffractometer for Single Crystal with CCD Detector

Facility/equipment: Equipment

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    自然科学研究科棟1階ヘリウム回収室

    Japan

Equipments Details

Description

単結晶X線回折およびその回折像の解析システムである。有機・無機分子の分子構造を直接的に得ることができるため、機能材料の構造の特定や機能と構造の相関について多くの情報を得ることができる。


Key word 結晶 固体 粉末 表面 構造 回折 X線
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Fingerprint

Explore the research areas in which this equipment has been used. These labels are generated based on the related outputs. Together they form a unique fingerprint.