X-Ray Diffractometer for Thin Film in Clean Room

あらゆる薄膜材料の統合的な解析が可能な高性能X線回折装置。非破壊で薄膜と基盤の同時解析が可能で、様々な薄膜材料の構造情報を得ることができる。
物理、化学、工学、材料、無機、固体、表面、回折、X線
H29年3月 設置調整。