3次元光学プロファイラーシステム

施設/設備

設備の詳細

微細加工等のプロセスが施された表面や物体表面の三次元形状を走査型白色光干渉技術により0.1ナノメートルの垂直分解能で高速測定し、測定面の性状を多彩なパラメータにより定量的に解析評価するとともに、その結果を高解像度でカラーグラフィクス表示する。
測定原理: 走査型白色干渉法
垂直分解能: 0.1nm
垂直測定範囲: 150μm
観察視野: 0.04x0.03mm ~ 14.14x10.6mm
CCD画素: 640x480 (Max)

詳細

名前Newview 7300
取得日4/1/09

フィンガープリント

この設備が使用された研究分野を検索します。これらのラベルは、関連する成果に基づいて生成されます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。