「微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)」の前処理用光学顕微鏡です。回路, 半導体部品の分析や細胞等の生体組織など, 材料工学~生物工学まで幅広い分野において利用可能です。
【key words】共焦点, レーザ, 材料, 半導体, 回路, 生物, 細胞, 組織, 蛍光
レーザー: 405 nm(50mW), 488 nm(20mW), 561 nm(20mW), 640 nm(40mW)
超解像イメージング(FV-OSR)対応:コローカリゼーション解析に最適で、分解能 約120 nmを実現可能
デコンボリューション:アルゴリズム画像処理によりノイズ除去を行い,よりシャープな画像が得られる
波長分解能 2nm の分光器, ペルチェ冷却機能付ガリウム砒素リン (GaAsP) の高感度検出器2CHを搭載しており, 光刺激による FRIP, FRAP 解析や, 3次元構築・観察が可能 (3Dアニメーション, タイムラプスイメージング)。