Electron attachment of oxygen in a drift chamber filled with xenon + 10% methane

Y. Chiba, I. Hayashibara, T. Ohsugi, T. Sakanoue, A. Taketani, N. Terunuma, Y. Suzuki, A. Tsukamoto, H. Yamamoto, Y. Fukushima, T. Kohriki, S. Nakamura, M. Sakuda, Y. Watase

研究成果査読

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抄録

The existence of O2 contamination attenuates the pulse height and degrades its resolution in a drift chamber filled with xenon-methane (90/10) gas. The first measurement of the electron attachment coefficient due to oxygen in such a mixture is reported.

本文言語English
ページ(範囲)171-176
ページ数6
ジャーナルNuclear Inst. and Methods in Physics Research, A
269
1
DOI
出版ステータスPublished - 6月 1 1988

ASJC Scopus subject areas

  • 核物理学および高エネルギー物理学
  • 器械工学

フィンガープリント

「Electron attachment of oxygen in a drift chamber filled with xenon + 10% methane」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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