| 本文言語 | English |
|---|---|
| ページ（範囲） | 507-514 |
| ページ数 | 8 |
| ジャーナル | Advanced Reliability Modeling Proceeding of the 2004 Asian International Workshop |
| 出版ステータス | Published - 2004 |
X-ray Image analysis of Defects at BGA for Manufacturing System Reliability
Toshinori Maruyama
研究成果
Toshinori Maruyama
研究成果
| 本文言語 | English |
|---|---|
| ページ（範囲） | 507-514 |
| ページ数 | 8 |
| ジャーナル | Advanced Reliability Modeling Proceeding of the 2004 Asian International Workshop |
| 出版ステータス | Published - 2004 |